國產(chǎn)XRF膜厚測試儀XD-1000

國產(chǎn)XRF膜厚測試儀XD-1000標準配置

XRF膜厚測試儀開放式樣品腔，滿足大樣品測試

精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。

雙激光定位裝置。

鉛玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探測器。

信號檢測電子電路。

高低壓電源。

X光管。

高度傳感器

保護傳感器

計算機及噴墨打印機（可以保存和實時打印）

國產(chǎn)XRF膜厚測試儀XD-1000技術(shù)指標

XRF膜厚測試儀多變量非線性回收程序

度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。

任意多個可選擇的分析和識別模型。

相互獨立的基體效應(yīng)校正模型。

型號：XD-1000 XRF鍍層膜厚測試儀

元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。

同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。

分析含量一般為ppm到99.9% 。

鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。

外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：100kg

性能特點

定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊

鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點

高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準

良好的射線屏蔽作用

XRF膜厚測試儀測試口高度敏感性傳感器保護

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求

φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求

高精度移動平臺可精確定位測試點，重復(fù)定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光，可自動定位測試高度

應(yīng)用領(lǐng)域

XRF鍍層膜厚測試儀應(yīng)用于金屬鍍層的厚度（鍍銀、鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍鉻、鍍鈀等）測量、電鍍液和鍍層含量的測定,端子連接器、LED、半導(dǎo)體、衛(wèi)浴潔具、PCB、電子電器、氣配五金、珠寶首飾、汽車配件、制冷設(shè)備、檢測機構(gòu)以及研究所和高等院校等衛(wèi)浴等行業(yè)。