X射線熒光鍍層測厚儀

性能特點

滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求

φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求

高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光，可自動定位測試高度

定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊

鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點

高分辨率探頭使分析結果更加精準

良好的射線屏蔽作用

測試口高度敏感性傳感器保護

技術指標

型號：XTD

元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）

一次可同時分析多24個元素，五層鍍層

分析檢出限可達2ppm，薄可測試0.005μm

分析含量一般為2ppm到99.9%

鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）

任意多個可選擇的分析和識別模型

相互獨立的基體效應校正模型

多變量非線性回收程序

多次測量重復性可達0.1%

長期工作穩定性可達0.1%

度適應范圍為15℃至30℃

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源

儀器尺寸：576(W) x 495 (D) x 545（H） mm

重量：90 kg

標準配置

開放式樣品腔。

精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。

雙激光定位裝置。

鉛玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探測器。

信號檢測電子電路。

高低壓電源。

X光管。

高度傳感器

保護傳感器

計算機及噴墨打印機

應用領域

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。

金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。

X射線熒光鍍層測厚儀主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。