型號：EDX8000L

天瑞X射線熒光光譜儀

描述：天瑞X射線熒光光譜儀EDX8000L利用中國歷史博物館和上海硅酸鹽研究所兩大古陶瓷研究檢測的部門提供的標準陶瓷片樣品為儀器標定基準標樣，一次性同時分析古陶瓷標本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化學成份含量，再對照中國古陶瓷數據庫便可以達到斷代斷源的功效。

廠商性質
經銷商
更新時間
2025-05-18
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1630

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詳細介紹

品牌	其他品牌	應用領域	環保,地礦,電子/電池,包裝/造紙/印刷,紡織/印染

儀器介紹：

天瑞X射線熒光光譜儀EDX8000L利用中國歷史博物館和上海硅酸鹽研究所兩大古陶瓷研究檢測的部門提供的標準陶瓷片樣品為儀器標定基準標樣，一次性同時分析古陶瓷標本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化學成份含量，再對照中國古陶瓷數據庫便可以達到斷代斷源的功效。同時，為了更好的利用X熒光分析儀器的無損測量特性，我公司根據行業需要制作超大型抽真空樣品腔，以滿足不同大小、器形的陶瓷樣品的檢測。

EDX8000L型儀器在測試陶瓷的同時亦可以測試青銅器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、貴金屬（Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe等）等的化學成份和金屬鍍層厚度，做到一機多用，是古文物檢測的科學檢測儀器。中國歷史博物館、中國收藏家協會等古文物收藏部門都是其用戶。

天瑞X射線熒光光譜儀EDX8000L技術指標：

測量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）

元素含量分析范圍：1ppm—99.99%

同時分析元素：同時可以分析30種以上元素

測量鍍層：鍍層厚度測量薄至0.01微米

測量對象狀態：粉末、固體、液體

測量時間：30s—200s

管壓：5KV—50KV

管流：50uA—1000uA

輸入電壓：AC 110V/220V

消耗功率：200W

環境溫度: 15-26℃

相對濕度: ≤70%

標準配置：

超薄窗大面積的Fast SDD探測器

數字多道系統

可自動切換型準直器和濾光片

光路增強系統

內置高清晰攝像頭

加強的金屬元素感度分析器

智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡單

面光源

放大電路

高低壓電源

X光管

多變量非線性回歸程序

相互獨立的基體效應校正模型。

三重安全保護模式

外觀尺寸：800×710×1360 mm

樣品腔尺寸：590×550×600mm

重量：280kg

應用領域：

古陶瓷

古青銅器

古首飾

鍍層測厚

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